S332E anritsu S332E驻波仪 回收S332E

S332E anritsu S332E驻波仪 回收S332E S331E天馈线分析仪 S332E


Site Master手持式电缆与天线分析仪 S332E

回损、电缆损耗、VSWR、故障定位点
相位、双端口传输测量
频谱分析仪、干扰分析仪、高精准度功率计、信道扫描仪、GPS 选件
经现场认证的设计： 一次充电可连续使用四小时，坚固耐用，结构紧凑，轻巧，显示屏在日光下可见
直观的菜单驱动式触摸屏用户界面
USB接口，内置触摸屏键盘
为适应当今无线通信市场的快速发展，除了安装新的 3G 和 4G 网络之外，您还需要拥有使您能够有效维护遗留网络的各种工具。 随着市场不断扩展，您需要维护的基站将不断增多。 这就意味着在现场您需要快速完成扫描、即时执行校准以及快速地完成对迹线的命名。

 

Anritsu新推出的这款您期待已久的 S332E Site Master 将电缆与天线分析仪以及频谱分析仪组合安装于一个独立的集成式设备中，易于使用、功能强大且性价比业界较佳，完**满足您的种种需求。 为适应严酷的现场条件而设计的这款 S332E Site Master 集成式电缆与天线分析仪 + 频谱分析仪，能够较大地提高您的工作效率，它颠覆了传统的先故障再维修的维护方式，能够在发生重大故障之前就确定并解决存在的一些小问题。

        为无线服务提供商、承包商、军事、航空**和*以及公共安全应用提供电缆 & 天线安装和维护
        对塔**放大器、双工器、双信器、滤波器执行双端口测量
        相位匹配电缆
        天线调谐
        频谱监控
        发射器验证：占用的带宽、信道功率、相邻信道功率比
        蜂窝系统、陆地移动无线系统和 Wi-Fi 干扰分析
        信号强度映射
        2G/3G/4G信号的场分析
        场强测量
价格说明




Anritsu S332E
Site Master电缆&天线分析仪   2MHZ-4GHZ
频谱分析仪                   100KHZ-4GHZ 
Anritsu S362E
Site Master电缆&天线分析仪   2MHZ-6GHZ
频谱分析仪                   100KHZ-6GHZ 
描述：
为适应当今无线通信市场的快速发展，除了安装新的 3G 和 4G 网络之外，您还需要拥有使您能够有效维


护遗留网络的各种工具。 随着市场不断扩展，您需要维护的基站将不断增多。 这就意味着在现场您需要


快速完成扫描、即时执行校准以及快速地完成对迹线的命名。 
Anritsu 新推出的这款您期待已久的 S332E Site Master 将电缆与天线分析仪以及频谱分析仪组合安装于


一个独立的集成式设备中，易于使用、功能强大且性价比业界较佳，完**满足您的种种需求。 为适应严


酷的现场条件而设计的这款 S332E Site Master 集成式电缆与天线分析仪 + 频谱分析仪，能够较大地提


高您的工作效率，它颠覆了传统的先故障再维修的维护方式，能够在发生重大故障之前就确定并解决存在


的一些小问题。
特征：
回损、电缆损耗、VSWR、故障定位点 
相位、双端口传输测量 
频谱分析仪、干扰分析仪、高精准度功率计、信道扫描仪、GPS 选件
经现场认证的设计： 一次充电可连续使用四小时，坚固耐用，结构紧凑，轻巧，显示屏在日光下可见
直观的菜单驱动式触摸屏用户界面 
USB 接口，内置触摸屏键盘
应用：
为无线服务提供商、承包商、军事、航空**和*以及公共安全应用提供电缆 & 天线安装和维护 
对塔**放大器、双工器、双信器、滤波器执行双端口测量 
相位匹配电缆 
天线调谐 
频谱监控 
发射器验证：占用的带宽、信道功率、相邻信道功率比 
蜂窝系统、陆地移动无线系统和 Wi-Fi 干扰分析 
信号强度映射 
2G/3G/4G 信号的场分析 
场强测量
选件：
S332E-0010  可变电压 偏压器 
S332E-0021  双端口传输测量 
S332E-0031  内置 GPS 接收器（需要天线 P/N 2000-1528-R，单独出售） 
S332E-0019  高精准度功率计（需要 USB 功率传感器） 
S332E-0029  功率计 
S332E-0025  干扰分析仪 
S332E-0027  信道扫描仪 
S332E-0028  CW 信号发生器（需要 CW 信号发生器套件，P/N 69793） 
S332E-0090  栅控扫描 
S332E-0509 AM/FM/PM Analyzer with Coverage Mapping (Options 31 and 431 are required for 


utilization of coverage mapping feature) 
S332E-0098  标准校准 Z540 
S332E-0099  高级校准 Z540，增加测试数据